Представлены результаты экспериментального исследования и моделирования электронных процессов в ионизационной камере, заполненной жидким ксеноном и облучаемой импульсами тормозного излучения синхротрона. Доза при облучении варьировалась от 10-6 до 0.11 Гр/импульс. Исследовались реакция камеры на интенсивное импульсное возбуждение и восстановление ее работоспособности после интенсивного облучения. Показано, что при дозах > 10-4 Гр/импульс создаваемый в камере объемный заряд оказывает заметное влияние на формирование импульсов электронной проводимости. Исследована форма импульса тока в камере при создании в ней объемного заряда, измерены параметры импульса, сформулирована модель, учитывающая влияние объемного заряда. Показано, что при дозах, превышающих критические, объемный заряд рассасывается за 50 100 мкс при длительности переходных процессов в электрических цепях 500 мкс, т.е. спектрометрические характеристики ионизационной камеры восстанавливаются спустя < 1 мс после прекращения облучения.
