Исследование воздействия быстрых электронов и ней­тро­нов про­ве­де­но на ми­кро­сбор­ках, пред­наз­на­че­н­ных для из­ме­ре­ния и ста­би­ли­за­ции тем­пе­ра­ту­ры пер­вич­ных пре­об­ра­зо­ва­те­лей не­элек­три­чес­ких ве­ли­чин, у ко­то­рых пе­ре­да­точ­ная ха­рак­те­рис­ти­ка за­ви­сит от тем­пе­ра­ту­ры. Об­на­ру­же­на до­ста­то­чно вы­со­кая стой­кость ос­нов­ных па­ра­мет­ров ми­кро­схем к та­ко­му воз­дей­ствию. По­ка­за­ны при­чи­ны из­ме­не­ний не­ко­то­рых па­ра­ме­т­ров под дей­стви­ем наз­ва­н­ных из­лу­че­ний

Технология и конструирование в электронной аппаратуре [Текст] : научно-технич. журнал / АО "Нептун". — Одесса.

• УДК // Мікроелектроніка. Інтегральні схеми