Разработан новый метод жидкокристаллической термографии «горячих точек» в кристаллах изделий микроэлектроники, основанный на использовании визуального отображения «горячей точки» локальной холестерической фазой в прозрачной смектической фазе холестерического жидкого кристала на фоне четкого изображения топологических элементов поверхности кристала изделия. Приведены примеры отображения «горячих точек» на образцах кристаллов различных типов интегральных схем.

Технология и конструирование в электронной аппаратуре [Текст] : научно-технич. журнал / АО "Нептун". — Одесса.

• УДК // Мікроелектроніка. Інтегральні схеми