Проанализированы методы моделирования одного из основных эффектов деградации параметров ИС - температурной нестабильности при отрицательном смещении (NBTI-эффект). Предложена модель деградации порогового напряжения p-МОП-транзистора с учетом влияиня NBTI-эффекта, а также алгоритм распространения вероятности сигнала по схеме для повышения точности при оценке деградации.
