Рассмотрены способы повышения точности ПЛИС и устранения погрешностей измерений, обусловленных нестабильностью поперечной диаграммы направленности лазера (нестабильностью ДНЛ) и амплитудными флуктуациями лазерного излучения; приведены принципы построения ЛИС ДОК и ЛИС СОЛ, а также функциональные и структурные схемы их реализации, защищенные патентом РФ.
