Рассмотрено применение нейронных сетей для прогнозирования технических характеристик ИС на примере процесса деградации выходного напряжения низкого уровня () ТТЛ ИС типа 106ЛБ1 по результатам испытаний на долговечность. Исследована зависимость прогнозируемых значений от ширины окна, использующегося в методе, и от глубины прогнозирования.
