|
Автор: Пархоменко Ю.Н., Выговская Е.А., Торопова О.В., Болотов И.Н., Зайцев А.Ю.
-
Анотація:
Представлены результаты исследований упругих напряжений, связанных с наличием квантовых точек Si1-xGex, в Si-Ge-ионоплантированных структурах.
-
Є складовою частиною документа:
-
Теми документа
-
УДК // Властивості та структури, виявлені за допомогою рентгенівських променів. Виявлення тонкої структури
-
УДК // Оборотні деформації. Пружні деформації ( деформація тіл, що довільно відновлюють форму )
|
