Створено нову відбивальну оптичну мітку у вигляді записаного на халькогенідне скло спільного енергетичного спектра від трансформованої та еталонної фазових масок. Мітка дозволяє кількісно перевіряти аутентичність об'єктів захисту. Розроблено метод розрахунку оптимальної експозиції запису відбивальної оптичної мітки. Його коректність підтверджено експериментально.

Відбір і обробка інформації [Текст] : міжвідомчий збірник наукових праць / НАНУ; Фізико-механічний ін-т ім. Г.В. Карпенка // Відбір і обробка інформації - Львів. — Львів, 2003.

• УДК // Загальні питання електрозв' язку. Кібернетика.Теорія інформації. Теорія сигналів стосовно електрозв' язку
• УДК // Оптична апаратура та прилади