На основе новой средней электромагнитной функции разработаны электромагнитные методы решения комплекса задач и проведено селективное определение параметров одно- и двухслойных ферромагнитных тел; дан детальный численный анализ сопоставления расчетных и заданных параметров подложки и верхнего слоя образца. Анализируются нелинейные уравнения, описывающие семейство кривых 2-го порядка. Для частного случая получены параметры канонического эллипса.
