Проанализированы тенденции развития моделей временных параметров стандартных цифровых элементов для статического временного анализа КМОП СБИС. Рассмотрены преимущества и недостатки различных типов моделей, проанализированы ограничения по их применению при переходе на глубоко-субмикронные и нанометровые нормы проектирования в процессе масштабирования КМОП-технологии.
