Описан монитор контроля плотности потока ускоренных частиц при облучении пленочных полимерных материалов тяжелыми ионами с низкой плотностью треков, от 103 до 5 · 107 см–2, основанный на регистрации протонов отдачи. Монитор предназначен для контроля облучения пленки шириной до 650 мм и состоит из пяти кремниевых PIN-диодов, перед каждым из которых размещена сменная водородосодержащая мишень. Чувствительность монитора с полиэтиленовой мишенью к плотности пучка ионов ксенона линейна и составляет (4 ± 0.5) · 10–3 импульсов/(ион/см2). Монитор обеспечивает контроль плотности потока ионов ниже 106 см–2, когда другие методы перестают работать. Его можно использовать на установке для определения плотности треков в готовом изделии, минуя стадию контроля на электронном микроскопе.

Приборы и техника эксперимента [Текст] : научный журнал / РАН. — М.

• УДК // Основні принципи та теорія вимірю-вання i розробки вимірювальних приладів. Методи вимірювання