Различные методы функционального контроля, применяемые в настоящее время в практике радиационных испытаний микропроцессоров, отличаются либо крайне низкой информативностью и достоверностью, либо чрезмерными временными затратами при подготовке и проведении испытаний. Описываемый метод “выборочного” функционального контроля является компромиссным и обеспечивает достаточную полноту тестирования микропроцессоров при приемлемых затратах. Аппаратно-программная реализация метода представляет собой блок функционального контроля, который конструктивно, функционально и параметрически оптимизирован для проведения радиационных испытаний практически всей номенклатуры современных микропроцессоров.
