Структурно-морфологические характеристики наноматериалов определяют и перспективы их использования, и риски для экологии и жизни. Рассмотрен подход к контролю нанокристаллических материалов, учитьшающий изменения структурно-морфологических характеристик в нанообласти. Просвечивающая электронная микроскопия (TEM) наиболее полно соответствует его требованиям. Трансформация ТЭМ в инструмент контроля невозможна без перестроек в ее практике и приборном обеспечении, необходимость и особенности которых должны быть осознаны производителями приборов, микроскопистами и потребителями структурной информации. В статье делается попытка собрать информацию в свете отношения к ней указанных групп. Очерчен круг вопросов, связанных с контролем, и рассмотрена его концепция, основанная на двухстадий-ной реализации, при которой на 1 стадии определяются размерно-структурные фракции наноматериала, а на 2 -характеристики этих фракций. Подход основан на всесторонней автоматизации измерений 1 стадии.
