Описываются приборы и методика для измерения различных характеристик гигроскопичных кристаллов в интервале температур -100 +100°С. Стеклянная вакуумная кювета размещается внутри массивного металлического сосуда, температуру которого можно изменять в широких пределах. Приведены результаты измерений температурной зависимости диэлектрической проницаемости в области фазового перехода сильно гигроскопичных кристаллов пироселенита аммония (NH4)2Se2O5 и (ND4)2Se2O5 при температурах, близких к комнатной.
