Приведена теоретически установленная связь между параметрами шероховатости Ra и Rq. Предложен оптический метод, основанный на анализе отраженного от поверхности излучения, для измерения указанных параметров шероховатости. Описан вариант устройства, которое может реализовать рассматриваемый метод.
