Зведений каталог бібліотек Харкова

 

Нгуен, В. Т.
    Алгоритмы количественной диагностики оптических неоднородностей методом лазерной рефрактографии [Текст] / Московский энергетический институт (технический университет) // Измерительная техника  : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 24-28.


- Анотація:

Описаны основы новой измерительной технологии - лезерной рефрактографии, предназначенной для визуализации и количественной диагностики прозрачных оптических неоднородных сред. Приведены алгоритмы обработкт экспериментальных рефрактограмм и восстановления профиля неоднородности.

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • УДК // Геометрична оптика (теорія та розрахунки)
  • УДК // Оптична апаратура та прилади



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського   Перейти на сайт