Зведений каталог бібліотек Харкова
Компан, Т. А. Контроль однородности ТКЛР в заготовках крупногабаритных оптических элементов [Текст] / Всероссийский НИИ метрологии им. Д.И. Менделеева // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 46-49.
- Анотація:
Показано преимущество дифференциального метода измерений, при котором исследуемый образец и образец сравнения изготовляют из материала одной партии.
- Є складовою частиною документа:
Измерительная техника [Текст] : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — М.
- Теми документа