В спектрах излучения многих объектов имеются участки, где распределение интенсивности подобно спектру черного тела. Это позволяет определять температуру, регистрируя спектр излучения и сравнивая его с планковским спектром. Экспериментальные или расчетные данные о коэффициенте излучения таких объектов не требуются, так как температура определяется как параметр наблюдаемого распределения. Этим свойством характеризуются спектры излучения газовых и твердофазных пламен, эрозионной плазмы поверхностного разряда, металлов, полупроводников и диэлектриков, микро- и наночастиц, а также гетерогенных сред (порошковых смесей, керамик) при температурах, как меньших температуры плавления, так и превышающих ее. Для регистрации спектров применяются спектрометры с линейками фотоприемников, чувствительных в области длин волн 200-1100 нм. Такие спектрометры позволяют за время 1 мс записать спектр и определить температуру излучателя в диапазоне 800 K-140 кK. В обзоре обсуждаются особенност
