Зведений каталог бібліотек Харкова
Хижняк, В. В. Метод оптимизации измеряемых параметров сложных технических комплексов на основе атрибутированного бинарного дерева [Текст] / ННЦ "Институт метрологии", г.Харьков, Украина // Український метрологічний журнал. — 2009. — С. 45-49.
- Анотація:
Предлагается усовершенствование методики оптимизации измеряемых параметров сложного технического комплекса за счет использования разработанного метода определения коэффициентов зависимости измеряемых параметров, который базируется на формировании и обработке атрибутированного бинарного дерева.
- Є складовою частиною документа:
Український метрологічний журнал [Текст] // Український метрологічний журнал ; ДНВО "Метрологія" - Х. : ХДНДІМ. — 2009.
- Теми документа
