Зведений каталог бібліотек Харкова

 

Сосновский, Э. А.
    Анализ тепловых проявлений дефектов резистивных элементов микроэлектронной аппаратуры [Текст] / Харьковский ордена Ленина авиационный институт им. Н.Е. Жуковского // Самолетостроение. Техника воздушного флота : республик. межвед. науч.-техн. сб. / отв. ред. В.Н. Ершов. — Х. : Вища школа, 1982. — С. 68-73.


- Анотація:

Исследовано тепловое проявление дефектов в тонкопленочных резисторах, получены зависимости рассеивания мощности от дефекта, перепады температур между дефектами и бездефектными участками. Получены выражения для определения пороговой чувствительности измерителя температуры, предназначенного для определения скрытых дефектов в резисторах.

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • Праці співробітників ХАІ // Праці співробітників ХАІ/Труды сотрудников ХАИ
  • УДК // Резистори. Реостати
  • Праці співробітників ХАІ // Сосновский Э.А.



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського   Перейти на сайт