Создан комплекс динамической диагностики процесса облучения пленок для производства трековых мембран. Комплекс включает программы для моделирования и оптимизации режимов облучения и систему динамической диагностики пучка ионов на основе прозрачных профилометров и двух вариантов измерительной системы. Созданная система динамической диагностики позволяет измерять параметры облучения с временным разрешением 100 мкс. Исследованы режимы работы ускорительного комплекса «Альфа» (ЗАО «Трекпор Технолоджи») и даны рекомендации по оптимальным режимам облучения и использованию комплекса как части метрологического обеспечения технологии промышленного облучения пленок.

Российские нанотехнологии [Текст] // . — М., 2009.

• УДК // Використання електромагнітних, електродинамічних явищ
• УДК // Електричні вимірювання ( методи та прилади)
• УДК // Нанотехнологія