Описан метод коррекции результатов измерений пирометрами спектрального отношения объектов с сильно выраженной зависимостью спектральной излучательной способности ?? от длины волны ?. Расчет проведен для двух типов широкополосных приемников излучения на основе Si/Si- и Si/InGaAs-структур. Указаны расхождения между действительной температурой объектов и их температурой спектрального отношения на примере Fe, Ni, Cu, Ag, Co. Проведено сопоставление численного расчета температуры спектрального отношение для варианта, допускающего аналитическое решение, с этим аналитическим решением, показано отсутствие расхождений между численным и аналитическим решениями.
