Построена модель накопления повреждений цифровых интегральных микросхем (ИМС) при воздействии последовательности импульсов радиоизлучения. Проведены статистический анализ вероятности отказа ИМС от числа и мощности воздействующих радиоимпульсов, статистическая обработка полученных экспериментальных результатов повреждения ИМС в электромагнитном поле радиоизлучения и сравнения их с результатами моделию

Радиотехника [Текст] // Радиотехника ; Российское научно-техническое общество радиотехники, электроники и связи им.Попова А.С. - М. : Радиотехника. — 2010.

• УДК // Радіоелектронна апаратура та схеми
• УДК // Телевізійна техніка. Техніка отримання,запису,передачі та прийому зображень. Відеотехніка та відеомережі