Предлагается технология минимального покрытия дефектных блоков резервными компонентами при восстановлении работоспособности логической части цифровой системы на кристалле. Рассматриваются общие положения и правила покрытия для матрицы конфигурируемых логических блоков с дефектными ячейками. Разрабатываются критерии покрытия дефектных ячеек. Приводятся примеры реализации алгоритма. Ключевые слова: верификация, восстановление работоспособности, дефект, система на кристалле.
