Дмитриев, Ю. К.     Анализ возможности локального диагностирования в вычислительных системах с циркулянтной структурой на основе использования избыточности в числе анализируемых исходов тестирования [Текст] / Институт физики полупроводников СО РАН, г.Новосибирск, Россия // Автоматика и телемеханика  : науково-технічний журнал / Рос. акад. наук. — С. 169-180.