В статті представлено два алгоритми безсловникового діагностування цифрових систем та проведено оцінку їх трудомісткості в порівнянні з класичними методами діагностування. Отримано результати, що свідчать про значно меншу трудомісткість процесу діагностування навіть за умови, коли алгоритм визначення міри підозри виконано і в результаті його виконання отримано однакові ймовірності станів Li. За оптимальних початкових умов діагностування реалізація запропонованого методу, на відміну від класичних, потребує значно меншої кількості циклів моделювання, що в свою чергу дозволяє використати його для діагностування складних цифрових та мікропроцесорних систем. Ключові слова: тестування, діагностування цифрових систем, безсловникові алгоритми, безсловникове діагностування.
