В данной статье предлагается новый подход к решению задачи построения тестов цифровых устройств с минимальным рассеиванием тепла, который основан на понятии избыточности тестовых последовательностей. Данный подход состоит из трех последовательных этапов: генерация множества избыточных тестовых последовательностей, оценка их свойств и выбор оптимального подмножества. Особенностью подхода является то, что последний этап основан на алгоритме симуляции отжига. Приводятся результаты машинных экспериментов для схем каталога ISCAS-89, подтверждающие эффективность предложенного подхода. Ключевые слова: цифровая последовательностная схема, генерация тестов, диагностическая избыточность, симуляция отжига, рассеивание тепловой энергии.
