Проведен анализ существующих техник и инструментально-технических средств засева дефектов встроенных систем на программируемых логических интегральных схемах (ПЛИС). Предложено инструментальное средство засева и моделирования одиночных и множественных константных неисправностей проектов на ПЛИС. Предложенное средство обладает рядом преимуществ по сравнению с существующими программными комплексами: не требует знаний языков описания аппаратуры со стороны пользователя, универсальный формат представления входных данных (EDIF 2.0.0), открытый программный код, возможность формирования файла "прошивки" для ПЛИС с инжектированными дефектами. Ключевые слова: дефект, засев дефектов, ПЛИС, константная неисправность, stuck-at-fault.
