Зведений каталог бібліотек Харкова

 
Пошук Відібрані Опис документа
Початкова сторінка Сайт УФД

Невлюдов, И. Ш.
    Метод операционного контроля толщины полупроводниковых пластин в процессе обработки [Текст] / И.Ш. Невлюдов, Н.Г. Стародубцев // Вопросы проектирования и производства конструкций летательных аппаратов : сб. науч. трудов. — Х. : Нац. аэрокосмический ун-т "ХАИ", 2006. — С. 40-47.

- Анотація:

Предлагается метод контроля толщины полупроводниковой пластины в процессе производства, позволяющий повысить производительность и качество изделий.

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • УДК // Вимірювання опору, аактивного опору, реактивного опору, провідності, індуктивності, ємності, питомої ємності



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського   Перейти на сайт