Зведений каталог бібліотек Харкова
Бухараев, А. А. АСМ-метрология наночастиц, полученных электрохимическим осаждением [Текст] / Казанский физико-технический институт им. Е.К.Завойского. // Российские нанотехнологии. — М., 2010. — С. 87-94.
- Анотація:
В данной работе рассматривается проблема получения на основании данных атомно-силовой микроскопии (АСМ) достоверной информации о распределении по размерам наночастиц, лежащих на неровной поверхности или слипшихся между собой.
- Є складовою частиною документа:
Российские нанотехнологии [Текст] // . — М., 2010.
- Теми документа