Зведений каталог бібліотек Харкова

 

Бухараев, А. А.
    АСМ-метрология наночастиц, полученных электрохимическим осаждением [Текст] / Казанский физико-технический институт им. Е.К.Завойского. // Российские нанотехнологии. — М., 2010. — С. 87-94.


- Анотація:

В данной работе рассматривается проблема получения на основании данных атомно-силовой микроскопии (АСМ) достоверной информации о распределении по размерам наночастиц, лежащих на неровной поверхности или слипшихся между собой.

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • УДК // Вимірювання геометричних та механічних величин: вимірювальні прилади, методи та одиниці вимірювання



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського   Перейти на сайт