Исследованы проблемы и возможности использования затратного подхода при оценке объектов интеллектуальной собственности. Обоснованы методические трудности и невозможность приме- нения доходного и сравнительного подходов при оценке наукоем- кой продукции единичного производства для постановки на баланс. Приведены рекомендации по использованию затратного подхода, алгоритм оценки объектов интеллектуальной собственности, а также варианты улучшения методик расчета.

Вестник Московского государственного технического университета им. Н.Э. Баумана.Сер. Приборостроение [Текст] : научно-теоретический и прикладной журнал. — 1998. — 4 : Специальный выпуск "Радиоэлектроника".

• УДК // Фінанси