Рассмотрены проблемы статистического моделирования сложных функциональных блоков. Проанализированы методы ускорения статистического анализа. Приведены результаты сравнительного анализа использования линейной и квадратичной регрессий на этапе формирования моделей функциональных параметров сложных функциональных блоков.

Известия вузов. Электроника. [Текст] // Известия вузов. Электроника ; Министерство образования РФ, Московский государственный институт электронной техники - М. : МИЭТ. — 2010.

• УДК // Електроніка. Мікроелектроніка