Проанализирован метод сечений для контроля формы пятен лазерного излучения. Расмотрена возможность использования коэффициента формы для решения поставленной проблемы. Проведены эксперементальные исследования метода сечений и коэффициента формы.

Управляющие системы и машины [Текст] : междунар. научный журнал / НАН Украины. Междунар.науч.-учеб.центр информ.технологий и систем. Ин-т киберн.им.В.М.Глушкова. — статьи публ.на русск.укр. и англ .яз. — К.

• УДК // Електроніка. Мікроелектроніка
• УДК // Оптичні мазери. Лазери