|
Автор: Соколов В.И., Китай М.С., Мишаков Г.В., Молчанова С.И., Панченко В.Я., Соколова И.В.
-
Анотація:
Спектроскопический рефрактометр предназначен для измерения показателя преломления n жидких и твердых сред на любой длине волны в диапазоне от 375 до 1150 нм с точностью ±5 · 10-5. Он может быть использован, в частности, для определения n мономеров, композиций и полимеров, применяемых при создании интегрально-оптических волноводов для телекоммуникационной области спектра вблизи 850 нм.
-
Є складовою частиною документа:
-
Теми документа
|
