Зведений каталог бібліотек Харкова
Максимов, К. С. Двумерные дефекты и проблема идентификации структуры наноразмерных частиц [Текст] / К.С. Максимов // . — С. 51-59.
- Анотація:
Показано, что двойники и антифазные границы могут существовать в наноразмерных объектах. Установлено, что двойникование и домены упорядочения влияют на закономерности дифракции, искажая сетки рефлексов на электронограмме.
- Є складовою частиною документа:
Известия вузов. Электроника. [Текст] // Известия вузов. Электроника ; Министерство образования РФ, Московский государственный институт электронной техники - М. : МИЭТ. — 2011.
- Теми документа
