|
Автор: Компан Т.А., Коренев А.С., Пухов Н.Ф., Гуров И.П., Дудина Т.Ф., Маргарянц Н.Б.
-
Анотація:
Рассмотрен метод спекл-интерферометрии для бесконтактного определения температурного расширения наноматериалов с негладкой поверхностью. Приведены соотношения для расчета основных параметров оптико-электронной системы спекл-интерферометра на основе оптической схемы интерферометра Майкельсона. Представлены результаты эксперимента по определению температурного удлинения исследуемого образца.
-
Є складовою частиною документа:
-
Теми документа
-
УДК // Вивчення процесів, що відбуваються при нагріванні та охолодженні. Термічний аналіз/Исследования при охлаждении и нагревании. Термический анализ/Researches when cooling and heating. Thermal analysis
-
УДК // Нанотехнологія
| 