Определен минимально необходимый объем отбраковочных испытаний изделий микроэлектроники для космических аппаратов. Предложенный подход позволяет минимизировать затраты на проведение испытаний, реализация которых способствует обеспечению надежности функционирования аппаратуры и КА в целом.

Известия высших учебных заведений. Приборостроение. [Текст] / МО РФ, СПб ГУИТМО. — СПб.

• УДК // Бортові системи та прилади наведення, керування і навігації космічних апаратів
• УДК // Електронні пристрої із використанням властивостей твердого тіла. Напівпровідникові елементи