Исследованы возможности улучшения метрологических характеристик прямого дугового атомно-эмиссионного анализа цветных и редких металлов (Ga,Cd, In и Zn) с применением фотодиодной регистрации (МАЭС). Усовершенствованы методики дугового атомно-эмиссионного анализа цветных и редких металлов, значительно повышена их точность.