621.3
Р17	Разработка методов и средств контроля параметров полупроводников с целью прогнозирования их технического состояния [Текст] : отчет о НИР (заключ.) : 503-147/80 / ХАИ ; рук. Сердаков А.С. ; исполн.: Мартыненко О.Н., Алексеев Ю.А., Баранов О.Н., Горелова Н.П., Ильченко А.Г., Келеберда С.М., Киреев В.А., Карпов А.И., Петренко Л.А. — Х., 1982. — 46 с.