В настоящее время оценка надежности программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) является актуальной задачей, т.к. надежность аппаратуры во многом обусловлена качеством ПЛИС. Появление на рынке контрафактных ПЛИС и частое нарушение условий хранения увеличивает актуальность задачи оценки их надежности. В данной работе предлагаются несколько методов диагностического неразрушающего контроля (ДНК) для оценки надежности ПЛИС. Ключевые слова: диагностический неразрушающий контроль ПЛИС, надежность ПЛИС, надежность аппаратуры космических аппаратов.
