Рассматривается архитектура микросхемы памяти со встроенными средствами многоверсионного самотестирования. Показаны преимущества встроенного самотестирования над внешним автоматизированным тестовым оборудованием, которое является очень дорогим, что увеличивает стоимость микросхем на рынке. Предлагается архитектура встроенных средств, обеспечивающих оперативную смену программ самотестирования. Данная архитектура позволяет повысить качество микросхем памяти на этапе изготовления и повысить коэффициент технической готовности микросхем на этапе эксплуатации. Ключевые слова: встроенное самотестирование, микросхемы памяти, тесты семейства March.
