Рассмотрен комплекс эталонных средств измерений в составе набора эталонных мер высоты ступеньки и величины периода, предназначенных для трехмерной калибровки контрольно-измерительного оборудования на основе интерференционных оптических и сканирующих зондовых микроскопов, применяемых для измерения малых расстояний.