Зведений каталог бібліотек Харкова
Моисеев, Н. Н. Измерение параметров шероховатости с использованием интерференционного микроскопа [Текст] / Н.Н. Моисеев, И.Ю. Цельмина // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 19-21.
- Анотація:
Рассмотрена методика измерения параметров шероховатости полированной поверхности в нанометровом диапазоне с помощью интерференционного микроскопа Линника с автоматической расшифровкой интерферограмм по методу фазовых шагов.
- Є складовою частиною документа:
Измерительная техника [Текст] : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — М.
- Теми документа
