Рассмотрено уточнение метода рефракции с учетом эффекта смещения аксиальносимметричного плазменного образования в измерительной системе. Найдены выражения для определения вектора смнщения центра плазменного образования относительно оси измерительной системы, использующие минимальное количество измерений.

Источники низкотемпературной плазмы [Текст] : темат. науч.-технич. сб. / ХАИ; под ред. Н.В. Белана. — Х. : ХАИ, 1975. — 144 с.

• Праці співробітників ХАІ // Бєлан М.В./Белан Н.В./Belan N.
• Праці співробітників ХАІ // Пимкин В.А.
• Праці співробітників ХАІ // Праці співробітників ХАІ/Труды сотрудников ХАИ
• Праці співробітників ХАІ // Солодов В.Г.
• УДК // Фізика плазми