Рассмотрена задача анализа корреляционной функции спекл-структур интерференционных изображений, сформированных отраженным от шероховатой поверхности когерентным излучением, с применением методов статистического анализа пространственных случайных процессов. Установлены её основные статистические характеристики, позволяющие определить размер спеклов, а также связь с эффективной поверхностью рассеяния, которая, в свою очередь, содержит информацию о параметрах шероховатости поверхности. Теоретические выкладки подтверждаются экспериментальными данными. Результаты работы могут быть использованы при исследовании связи спектрально-корреляционных характеристик спекл-интерферометрических изображений с исследуемой поверхностью.