Зведений каталог бібліотек Харкова

 

Васильев, В. А.
    Моделирование и оценка параметровморфологии поверхностей тонких пленок нанои микроэлектромеханических систем [Текст] / В.А. Васильев, П.С. Чернов // Измерительная техника  : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 13-16.


- Анотація:

Рассмотрены тонкопленочные нано- и микроэлектромеханические системы датчиков давления, экспериментальные и теоретические методы изучения и результаты оценки параметров морфологии поверхностей пленок. Разработаны модель и алгоритм роста тонких пленок, учитывающие диффузию частиц.

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • УДК // Вимірювання геометричних та механічних величин: вимірювальні прилади, методи та одиниці вимірювання
  • УДК // Нанотехнологія
  • УДК // Спеціальна геометрія і взаємодія з частинками та випромінюванням
  • УДК // Стохастична апроксимація. Методи Монте-Карло
  • УДК // Фізика конденсованої матерії. Фізика твердого тіла



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського   Перейти на сайт