На основании математического аппарата теории восстановления получены показатели надежности полупроводниковых приборов при случайно-циклическом воздействии повышенной температуры.

Математические методы анализа динамических систем [Текст] : темат. сб. науч. тр. / М-во высшего и среднего спец. образования СССР, Харьк. авиац. ин-т. — Х. : ХАИ, 1980. — 148 с.

• УДК // Електронні пристрої із використанням властивостей твердого тіла. Напівпровідникові елементи
• Праці співробітників ХАІ // Іванов Г.О./Иванов Г.А.
• Праці співробітників ХАІ // Праці співробітників ХАІ/Труды сотрудников ХАИ