Современные методы тестирования и верификации сложных микропроцессоров не позволяют избежать многочисленных ошибок в проекте. Предлагается методика повышения качества тестирования таких микропроцессоров за счет введения в маршрут тестирования предложенного метода "встречного" тестирования с анализом полного функционального покрытия выделенных задач для ответственных применений. Ключевые слова: "'встречное" тестирование микропроцессора, план верификации, тестирование, управляемое покрытием, метрика полноты тестирования, критерии готовности проекта
