В статье приводится конструкция устройства для испытания эмиттеров катодов ЭРД в диодном режиме. Представлена разработанная конечно-элементная модель испытательного устройства, смоделировано тепловое состояние элементов конструкции в номинальном рабочем режиме. Показано, что при испытаниях эмиттеров имеется значительная температурная неоднородность эмиссионной поверхности образца, которая вносит дополнительную погрешность в результаты измерений и расчётов эмиссионных свойств материала. Результаты моделирования выявили неравномерность температуры эмитирующей поверхности в 10-12°К, что приводит к росту неравномерности по плотности эмиссионного тока до 40-50 %. Ключевые слова: безнакальный полый катод, конечно-элементная модель, эмиттер
