В данной работе представлены результаты численного моделирования распределения напряженности электрического поля (ЭП) по поверхности эмиттера при его испытаниях. В программном продукте Ansys 11 была реализована конечно-элементная модель устройства для исследования эмиссионных свойств. Проведенные расчеты показали, что форма и размеры элементов узла "анод - эмиттер" в устройстве по исследованию эмиссионных свойств могут вносить значительную неоднородность в распределение ЭП. Были проанализированы результаты расчетов и даны рекомендации, позволяющие минимизировать неоднородность ЕП.